GX53 倒置金相显微镜

先进的分析工具

GX53显微镜的各种观察功能可获得清晰锐利的图像，让您能够对样品进行可靠的缺陷检测。奥林巴斯Stream图像分析软件的新型照明技术和图像采集方案可为您提供评估样品和记录研究结果的更多选择。

从不可见到可见：MIX技术

MIX技术将暗场与另一种观察方法（如明场或偏振）相结合，让您能够观察传统显微镜难以观察的样品。圆形LED照明器的定向暗场功能可在指定时间照射一个或多个象限，从而减少样品光晕，更好地观察表面纹理。

印刷电路板切片

	明场 衬底层和通孔不可见。		暗场 痕迹不可见。		MIX: 明场+暗场 所有组件均可清晰呈现。

不锈钢

	明场 纹理无法观察。		暗场象限 色彩信息被去除。		MIX: 明场+暗场象限 材料色彩和纹理均可观察。

轻松生成全景图像: 即时MIA

通过多图像拼接(MIA)功能, 您转动手动载物台上的XY旋钮即可轻松完成图像拼接—电动载物台为选配。奥林巴斯Stream软件采用模式识别生成全景图像，特别适合用于检查渗碳和金属流动情况。

螺栓的金属流动

	使用XY旋钮调节载物台位置。				可观察到金属流动的全部状况。

生成全聚焦图像EFI

奥林巴斯Stream软件的景深扩展(EFI) 功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI可将这些图像堆叠在一起生成单幅的样品全聚焦图像。即便分析表面不平坦的切片样品时，EFI也能够创建全聚焦图像。

EFI配合手动或电动Z轴聚焦装置，可生成高度图像，对结构进行可视化观察。

树脂零件

	使用对焦手柄调整物镜高度。		EFI自动采集和堆叠多幅图像，生成单幅的样品全聚焦图像。		生成全聚焦图像。

利用HDR同时采集明亮区域和暗光区域

采用先进图像处理技术的高动态范围(HDR)可在图像内调整亮度差异，从而减少眩光。其也有助于增强低对比度图像的对比度。高动态范围(HDR)功能可用于观察电子组件的细微结构并识别金属晶界。

金板

	某些部位存在眩光。		暗光区域和明亮区域利用HDR获得清晰呈现。

铬扩散涂层

	对比度低且不清晰。		利用HDR增强对比度。

应用

采用不同观察方法所获得的效果示例。

经过抛光的AlSi样品（明场 / 暗场）

	明场		暗场

明场：一种观察直接照射样品反射光的常见观察方法。暗场：可观察样品的散射或衍射光线，因此诸如微小划痕或瑕疵等缺陷非常明显。

球墨铸铁（明场 / DIC）

	明场		DIC观察

微分干涉相差显微技术(DIC)：一种将样品高度以类似提高了对比度的3D图像，呈现出浮雕效果的观察技术；其非常适用于观察金相结构和矿物等具有很细微高度差的样品。

铝合金（明场/偏光）

	明场		偏光观察

偏光：一种能够突出材料纹理和晶体状态的观察技术，用于观察诸如球墨铸铁的石墨生长类型等金相结构和矿物。

电子组件（明场/ MIX观察）

	明场		MIX: 明场+暗场

MIX观察：将明场和暗场相结合，样品的颜色和结构均可观察。
上面的MIX观察图像清晰再现了该组件的颜色和纹理以及粘合剂层的状况。

奥林巴斯Stream软件 – 专为材料科学优化

GX53显微镜和奥林巴斯Stream软件可为满足各种行业标准要求的金相分析方法提供支持。用户通过分步操作指导能够轻松快捷完成样品分析。

颗粒分析 – 计数和测量解决方案

计数和测量解决方案使用阈值法，能够可靠地分离目标（如颗粒和划痕）与背景。可使用超过50种不同的参数对样品进行测量或评级，包括形状、大小、位置和像素特性等。

	常规软件 晶界不清晰		侵蚀后 的钢的显微组织 （原始图像）		奥林巴斯Stream 晶界清晰可辨

晶粒分类结果

显微组织中的晶粒尺寸

测量晶粒尺寸和分析铝、铁素体和奥氏体等钢的晶体结构以及其他金属的显微组织。
支持标准：ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS,  GB/T

铁素体晶粒的显微组织

	晶粒度截线法解决方案

评估石墨球化率

评估铸铁样品（球墨/蠕墨）的石墨球化率及含量。对石墨节点的形态、分布和大小归类。
支持标准：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T

显示球状石墨结构的延性铸铁

铸铁解决方案

高纯钢中非金属夹杂物含量的评定

对在恶劣视场采集图像中的非金属夹杂物或手动发现的恶劣夹杂物进行分类。
支持标准：ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI

带有非金属夹杂物的钢

夹杂物恶劣视场解决方案

您的样品图像与参考图像对比

可轻松比较实时或静态图像与自动缩放的参考图像。该解决方案包括符合各种标准的参考图像（也可单独购买更多的参考图像）。支持包括实时叠加显示和并排比较等多种模式。
支持标准：ISO、EN、ASTM、DIN、SEP

	带有非金属夹杂物的钢	铁素体晶粒的显微组织